探针 Double CP11/23

用于探测任务的实用双端设计

Probe Double CP11/23 是一种双头探针，专为需要受控接触和访问多个工作配置的探测任务而设计。其成对的末端支持在常规检查和评估期间的高效器械处理，帮助用户在不立即伸手去拿另一个器械的情况下在探测点之间转换。 slim 探针格式适用于 close、 deliberate 的工作，其中可见性和触觉控制很重要。通过在一个器械中组合两个探针末端，Probe Double CP11/23 可以帮助保持工作场所有序，同时支持 smooth、聚焦的工作流程。

适用场景

• 执行需要与工作区域受控接触的探测任务。
• 使用两端配置从不同的工作 orientation 访问探测点。
• 支持探针是适当器械家族的常规检查工作流。
• 当任务需要不同的末端配置时，在探针的工作末端之间转换。

护理与处理

• 根据机构程序和适用的使用说明，使用后 promptly 清洁器械。
• 在使用前后检查两个探针末端是否有可见污垢、损坏、弯曲或其他可能影响处理的改变。
• 小心处理探针以保护其工作末端免受冲击、弯曲或与较硬器械接触。
• 以有助于防止损坏并使其准备好下次使用的方式清洁干燥存放探针。

一般用途；遵循机构协议。